Modélisation et réduction des émissions électromagnétiques dans les microcontrôleurs

par Jean-Pierre Leca

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Gilles Jacquemod.


  • Résumé

    Ce sujet s’intéresse à la question des interférences électromagnétiques des microcontrôleurs 32-bits de STMicroelectronics. Avant le début de la thèse, il était possible de caractériser ou qualifier a posteriori le niveau d’émissions d’une puce mais il était beaucoup plus difficile d’en deviner le résultat comme somme de toute ses parties. Le but de ce travail de recherche a donc été de concevoir un modèle réutilisable afin de prédire le comportement en IEL des microcontrôleurs. En plus de la prédiction, l’intérêt de cet outil est qu’il permet de déterminer l’origine des faiblesses et ainsi de les améliorer. Dans un premier temps, l’expérience sur des microcontrôleurs existants a permis de déterminer les mécanismes de faiblesses. Ensuite, à partir des informations récoltées et d’une étude poussée de ces puces, un modèle a été bâti et validé par corrélation avec les mesures. Finalement ce modèle a pu être appliqué dès la conception des nouvelles puces afin de comparer l’efficacité des solutions proposées permettant de réduire les émissions et de faire de bon compromis de réduction d’IEM par rapport au coût de la solution.


  • Résumé

    This subject focuses on the electromagnetic interferences issues applied to 32-bits microcontrollers from STMMicroelectronics. At the thesis beginning, it was possible to characterize or qualify after the facts the emission levels of a device but it was very difficult to predict its result. So, the aim of this work has been to build a reusable model allowing the prediction of the microcontrollers EMI behavior. Another interest of this tool is that it highlights the weakness origin in order to be able to improve them. First, measurements on existing devices have allowed finding the weakness mechanisms. Then, from these informations and from an advanced device study, a predictive model has been established and validated by correlation by measurements. Finally, this tool has been applied during the device conception flow in order to compare the solution efficiency and to have the means to choose good compromises between EMI reduction and solution costs.

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Informations

  • Détails : 1 vol. (160 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 135-139

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  • Bibliothèque : Université Côte d’Azur. Service commun de la documentation. Bibliothèque Sciences.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : 12NICE4116
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