Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories

par Alban Zaka

Thèse de doctorat en Nano électronique et nano technologies

Sous la direction de Georges Pananakakis.

Le président du jury était Philippe Dollfus.

Le jury était composé de Raphaël Clerc, Luca Selmi, Pierpaolo Palestri, Denis Rideau.

Les rapporteurs étaient Claudio Fiegna, Tibor Grasser.

  • Titre traduit

    Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles


  • Résumé

    L'auteur n'a pas fourni de résumé en français


  • Résumé

    L'auteur n'a pas fourni de résumé en anglais


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