Modélisation de l’immunité des circuits intègres complexes aux perturbations électromagnétiques
Auteur / Autrice : | Jean-Baptiste Gros |
Direction : | Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance le 03/12/2010 |
Etablissement(s) : | Bordeaux 1 |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) |
Jury : | Examinateurs / Examinatrices : Hélène Fremont, Eric Woirgard, M. c. Marot |
Rapporteurs / Rapporteuses : Philippe Besnier, Étienne Sicard |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
L'objectif de cette thèse est l'étude de l'immunité des circuits intégrés complexes face aux perturbations électromagnétiques. Le début est consacré à la présentation de la compatibilité électromagnétique des circuits intégrés. Une présentation des moyens de maîtrise de la CEM est ensuite donnée. Les principaux thèmes que sont la modélisation, l’optimisation et la mesure sont exposés. L'étude se poursuit par l'établissement d'une méthodologie de construction d'un modèle d'immunité appliquée à un circuit convertisseur. Cette méthodologie s’inspire de la proposition de norme ICIM-CI pour bâtir successivement les différents blocs du modèle d’immunité. Une attention particulière est donnée à la modélisation du mécanisme de défaillance, celui-ci permettant d’obtenir les résultats d’immunité. Les résultats fournis par le modèle sont ensuite comparés puis validés par des mesures sur circuit. Enfin des études complémentaires, portant sur des circuits plus complexes, permettent de proposer des améliorations et perspectives nouvelles pour la démarche de modélisation.