Analyse de l'impact du bruit de commutation sur les blocs digitaux des circuits intégrés CMOS

par Laurent Larguier

Thèse de doctorat en Électronique, optronique et systèmes

Sous la direction de Michel Renovell et de Florence Azais.

Soutenue en 2008

à Montpellier 2 .

  • Titre traduit

    Analyzing the impact of simultaneous switching noise on the behavior of digital CMOS integrated circuits


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Informations

  • Détails : 1 vol. (123 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 117-123

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  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2008.MON-191
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