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Test intégré de circuits cryptographiques
par Marion Doulcier
Thèse de doctorat en Automatique, traitement du signal et génie informatique
Sous la direction de Bruno Rouzeyre.
Soutenue en 2008
à Montpellier 2 .
- Test intégré
- Cartes à puce
- Cryptographie
- Autotest
- Test en ligne
- Cryptographie à clé publique
- Cartes à mémoire
mots clés
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Titre traduit
Bist of cryptographic circuits
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Pas de résumé disponible.
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