Test intégré de circuits cryptographiques

par Marion Doulcier

Thèse de doctorat en Automatique, traitement du signal et génie informatique

Sous la direction de Bruno Rouzeyre.

Soutenue en 2008

à Montpellier 2 .

  • Titre traduit

    Bist of cryptographic circuits


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Informations

  • Détails : 1 vol. (204 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 179-190. Annexes

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2008.MON-130
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