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Test intégré de circuits cryptographiques

par Marion Doulcier

Thèse de doctorat en Automatique, traitement du signal et génie informatique

Sous la direction de Bruno Rouzeyre.

Soutenue en 2008

à Montpellier 2 .

mots clés

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Titre traduit

Bist of cryptographic circuits
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La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

Détails : 1 vol. (204 p.)
Annexes : Bibliogr. p. 179-190. Annexes

Où se trouve cette thèse ?

Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
Disponible pour le PEB
Cote : TS 2008.MON-130

Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.