Fiabilité des mémoires non-volatiles de type flash en architectures NOR et NAND

par Jérémy Postel-Pellerin

Thèse de doctorat en Micro-électronique

Sous la direction de Frédéric Lalande.

Soutenue en 2008

à Aix-Marseille 1 , en partenariat avec Université de Provence. Section sciences (autre partenaire) .

  • Titre traduit

    Reliability of flash non-volatile memories in NOR and NAN architectures


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Informations

  • Détails : 1 vol. (147 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 69-70, 98-100, 141

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