Etude par simulation composant 3D des effets singuliers SEU et SET induits par ions lourds sur le noeud technologique CMOS bulk 180 nm

par David Truyen

Thèse de doctorat en Électronique, optronique et systèmes

Sous la direction de Frédéric Saigné.

Soutenue en 2007

à Montpellier 2 .

  • Titre traduit

    Investigation on a heavy-ion induced SEU and SET single event effects by 3D device simulations on a CMOS 180 nm bulk technology


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Informations

  • Détails : 1 vol. (170 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 161-169

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2007.MON-139
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