Etude de sondes magnétiques en champ proche : application à l'étude de la susceptibilité de circuits intégrés

par Didier Castagnet

Thèse de doctorat en Sciences physiques et de l'ingénieur. Électronique

Sous la direction de Alain Meresse.

Soutenue en 2007

à Bordeaux 1 .


  • Résumé

    L'évolution récente des circuits microélectroniques a conduit à des densités d'intégration de plus en plus élevées et à un accroissement des fréquences de travail. L'augmentation des fréquences de travail est aussi liée au développement des composants basse tension, faible consommation. L'étude de la susceptibilité des circuits intégrés et plus particulièrement la localisation des zones sensibles au sein des composants devient dès lors une nécessité pour les concepterus. L'étude de la compatibilité électromagnétique (CEM) a donc été considérée et pour cela, les phénomènes électromagnétiques induisant des perturbations sont étudiés. Cette thèse présente donc, dans un premier temps, la caractérisation de deux sondes de champ magnétique (nue et blindée). Cette caractérisation permet de mettre en évidence les avantages et inconvénients de chaque structure. Les sondes de champ proche étudiées permettent ensuite de réaliser des cartographies en réception champ proche pour définir les zones à fort rayonnement sur un circuit à l'origine d'un éventuel dysfonctionnement du système. Dans un deuxième temps, l'étude du comportement d'un circuit face à une perturbation électromagnétique rayonnée ou conduite est abordée. Dans ce cadre, la réponse d'un circuit électronique simple à une perturbation conduite ou rayonnée est présentée. Les résultats obtenus permettent de valider les modèles, méthodes de calculs et bancs de test développés.

  • Titre traduit

    Near Field Magnetic probe : Integrated Circuit susceptibility study application


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Informations

  • Détails : 1 vol. (172 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 157-161. Annexes

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : FTA 3545
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