Test et testabilité des FPGA hiérarchiques à base de cellules mémoires SRAM

par Sébastien Tanguy

Thèse de doctorat en Électronique, optronique et systèmes

Sous la direction de Michel Renovell.

Soutenue en 2006

à Montpellier 2 .


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  • Titre traduit

    Structural testing of complex hierarchical SRAM-based FPGA


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Informations

  • Détails : 1 vol. (189 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 178-185

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2006.MON-50
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