TY  - THES
DP  - 
		http://www.theses.fr/2005LYO10060
TI  - Structural investigation of silicon after ion-implantation using combined x-ray scattering methods
AU  - Capello, Luciana
A3  - Canut, Bruno; Lamberti, Carlo
PY  - 2005
SP  - 1 vol. (144 f.)
N1  - Thèse de doctorat Physique des matériaux Lyon 1 2005
N1  - Thèse de doctorat Physique des matériaux Université de Turin 2005
N1  - 2005LYO10060
ER  -