Emission d'électrons à partir d'un film minéral

Electron emission from a mineral film

• Auteur / Autrice : Rachid Daineche
• Direction : Roger Morin
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique et sciences de la matière. Science des matériaux
• Date : Soutenance en 2005
• Etablissement(s) : Aix-Marseille 3

Mots clés

Mots clés contrôlés

Ultravide

Holographie

Faisceaux électroniques

Émission de champ

Isolants

Émission électronique

Résumé

Ce travail porte sur l'étude d'une source d'électrons composée d'une membrane de carbone recouverte de particules minérales isolantes de taille micrométrique. Sous l'action d'un faible champ électrique (quelques V/[micro]m) une émission électronique est observée. Un régime de type Fowler-Nordheim à faible champ et un régime de saturation à plus fort champ sont également observés. Une densité de courant de quelques mA/cm2 est mesurée. L'imagerie de la surface émissive montre que l'émission est localisée au niveau des particules minérales dont un tiers participent effectivement à l'émission au niveau du film. Les différents régimes d'émission sont observés au niveau d'une particule unique. L'observation de l'hologramme d'un objet de taille nanométrique éclairé par le faisceau émis par une de ces particules démontre le caractère cohérent de ce faisceau.

This study describes an electron source made of a carbon membrane covered with micrometric-size mineral insulating particles. A weak electric field (a few V/[micro]m) produces an electron emission. At low field a Fowler-Nordheim behaviour is observed and a saturation is observed at higher fields. A current density of a few mA/cm2 is measured. Surface emission imaging shows that the emission is localized right on the particles. One third of them indeed contribute to the emission of the film. Previously described emission behaviour is observed at the single particle level. The observation of the hologram of a nanometric size object illuminated by the beam emitted from one of these particles demonstrates the coherent property of this beam.