Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy

par Ignace Jarrige

Thèse de doctorat en Chimie analytique

Sous la direction de Philippe Jonnard.

Soutenue en 2003

à Paris 6 .

  • Titre traduit

    Nanometric-scale charaterization of metal/SiOxNy interfaces


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Informations

  • Détails : 1 vol., 181 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 175-181

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  • Bibliothèque : Université Pierre et Marie Curie. Bibliothèque Universitaire Pierre et Marie Curie. Section Biologie-Chimie-Physique Recherche.
  • Consultable sur place dans l'établissement demandeur
  • Cote : T Paris 6 2003 444
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