Mesure et analyse de l'émittance spectrale d'oxydes diélectriques à haute température : une approche des phénomènes préfusionnels

par Jean-François Brun

Thèse de doctorat en Physique des matériaux

Sous la direction de Patrick Echegut.

Soutenue en 2003

à Orléans .


  • Résumé

    L'émittance spectrale, image directe de l'absorptance optique, donne accès aux origines microscopiques caractéristiques des échanges de chaleur par transfert radiatif. Son évolution en température doit permettre de suivre les changements survenant à la fusion d'un matériau et de caractériser d'éventuels effets préfusionnels. Ce travail s'est appuyé sur ces possibilités pour aborder l'étude des propriétés optiques jusque dans la phase liquide de matériaux diélectriques oxydes à haute température de fusion (supérieure à 1200 K). L'étude a été rendue possible d'une part par le dispositif expérimental développé au laboratoire et d'autre part par les outils d'analyse utilisés pour l'interprétation des résultats. En effet la gamme spectrale couverte par le spectromètre permet de mesurer l'émittance entre 10 et 10 000 cm-1 sur un domaine de température allant de l'ambiante à 2600 K. Les propriétés optiques ont été déduites quant à elles de la connaissance unique de la fonction diélectrique du matériau, obtenue grâce à un nouvel outil de simulation des spectres basé sur un modèle de fonction diélectrique semi-quantique. Le choix des matériaux s'est porté sur des monocristaux d'alumine et de magnésie ainsi que sur des verres de silice, de CaSiO3 et de Borofloat®. Dans le cas du corindon et de la magnésie une augmentation surprenante de l'émittance est observée dans la zone de transparence, parfaitement simulée en introduisant un terme de relaxation de Debye dans le modèle de fonction diélectrique. La discussion met en avant un phénomène particulier de relaxation électronique interprété comme un effet préfusionnel qui n'existe pas pour les composés amorphes étudiés.

  • Titre traduit

    Measurement and analysis of the spectral emittance of dielectric oxides at high temperature : an approach of premelting effects


  • Pas de résumé disponible.

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 181 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 173-179

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université d'Orléans. Service commun de la documentation.Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 19-2003-43
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.