Imagerie par sismique réflexion : utilisations de la pente des données dans la migration de profondeur

par Sylvain Laurent Nguyen

Thèse de doctorat en Géophysique. Dynamique et ressources des bassins sédimentaires

Sous la direction de Mark Noble.

Soutenue en 2003

à Paris, ENMP .

  • Titre traduit

    Seismic reflection imaging : using the data slope with the depth migration


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  • Résumé

    La sismique réflexion est basée sur l'enregistrement en surface des ondes sismiques réfléchies sur les discontinuités du sous-sol. Le traitement sismique profondeur a deux étapes majeures: l'estimation d'un modèle de vitesse de propagation des ondes, puis la migration en profondeur qui repositionne les réflecteurs. Le modèle de vitesse, difficile à obtenir est crucial pour la qualité de l'image migrée. Pour l'évaluer, la tomographie travaille avec des temps de trajet pointés dans les données sismiques. Une extension permet de faciliter ce pointé: la tomographie de pente, prend en compte en plus les pentes locales des réflexions enregistrées sans les suivre dans l'ensemble des données. Deux méthodes de ce type ont été développées à l'École des Mines de Paris: la Stéréotomographie et la MVA (Migration Velocity Analysis). La première a une phase de pointé dans les données, recherche itérativement un modèle de vitesse. La MVA utilise des pentes mieux pointées dans le domaine migré, qui présente un meilleur rapport signal sur bruit. Mais ce pointé s'opére à chaque itération. Cette thèse propose une technique de pointé profondeur pour la Stéréotomographie. J'ai étudié le phénomène de l'aliasing de la migration qui peut dégrader la qualité du pointé profondeur. Il est de plus démontré les pentes dans le filtre "anti-aliasing" permettent une image optimale. Puis ce travail propose une migration utilisée quantitativement pour obtenir le pointé tomographique dans le domaine migré. J'ai ainsi montré une méthode pour obtenir par une migration d'attributs avec un modèle de vitesse erroné, des pointés pour la Stéréotomographie. Deux applications sur des données réelles

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Informations

  • Détails : 1 vol. (156 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. 121 réf.

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  • Bibliothèque : Mines ParisTech. Bibliothèque.
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  • Cote : EMF 18845-8
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  • Cote : 03 ENMP 1177
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