TY  - THES
DP  - 
		http://www.theses.fr/2002TOU30200
TI  - Etudes expérimentales et théoriques des mécanismes de dégradation électrique dans les composants bipolaires et à effet de champ à base de silicium germanium
AU  - Kuchenbecker, Jessica
A3  - Plana, Robert; Borgarino, Mattia
PY  - 2002
SP  - 144 p.
N1  - Thèse de doctorat Micro-électronique Toulouse 3 2002
N1  - 2002TOU30200
ER  -