Analyse du bruit dû aux couplages capacitifs dans les circuits intégrés numériques fortement submicroniques

par Fabrice Ilponse

Thèse de doctorat en Informatique, télecommunication et électronique

Sous la direction de Alain Greiner.

Soutenue en 2002

à Paris 6 .

mots clés

• Circuits intégrés, vérification
• Bruit, méthodes d'estimation
• Bruit, méthodes d'évaluation
• Technologie fortement submicronique
• Pic de tension
• Diaphonie capacitive
• Structure de données, gestion des circuits

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Titre traduit

Crosstalk noise analysis in deep submicron VLSI chips

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