Filtre interférentiel à bande étroite accordable. Principes de base et application au secteur des télécommunications optiques

par Rémy Parmentier

Thèse de doctorat en Électronique, optronique et systèmes

Sous la direction de Michel Lequime.

Soutenue en 2002

à Aix-Marseille 3 .


  • Résumé

    Nous analysons les différents moyens d'accordabilité d'un filtre interférentiel DWDM. Nous commençons par étudier le déplacement de la longueur d'onde de centrage d'un filtre interférentiel en fonction de la formule de l'empilement. Nous décrivons ce déplacement théorique sous l'action d'une contrainte thermique, par l'utilisation de matériaux piézoélectriques (Ta2O5) ou électro-optiques (BaTiO3 et LiNbO3). Nous détaillons ensuite la modification du procédé EBD afin d'obtenir des couches minces piézoélectriques. Nous analysons la microstructure par XRD et MEB du Ta2O5 ainsi déposé, et étudions la corrélation avec la piézoélectricité mesurée par EFPI. Nous validons enfin expérimentalement la faisabilité d'un filtre Fabry-Pérot à cavité-substrat constituée d'un monocristal électro-optique, ainsi que l'accord d'un filtre classique contraint mécaniquement en compression. Nous concluons, pour les moyens étudiés, à une accordabilité relative générique voisine de un pour mille. .

  • Titre traduit

    Toward tunable narrow band-pass thin film filters for dense wavelongth division multiplexing


  • Résumé

    We describe theoretically different physical means for the tunability of thin film DWDM filters. We calculate the influence of the stack formula on the effective shift of the central wavelength. We emphasize on thermal, piezoelectric, electro-optic (BaTiO3 and LiNbO3) and mechanically induced strain effects. We first focus on evaporated Ta2O5 layers' microstructure (XRD and MEB analysis) with respect to substrate's temperature during EBD process. We study the link between layer's crystallinity and piezoelectric activity measured with an EFPI interferometer. We also experiment the mechanical tuning of classical DWDM filters loaded by a uniform compressive force. We finally deposit thin-film mirrors on both sides of a thin mono-crystalline LiNbO3 plate surrounded by ITO transparent electrodes, and evaluate the central wavelength shift. We conclude on an average relative shift for all physical means of about 0. 1 percent.

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Informations

  • Détails : 207 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 201-205

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  • Bibliothèque : Université d'Aix-Marseille (Marseille. Saint-Jérôme). Service commun de la documentation. Bibliothèque de sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : T 2971
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