Développement, mise en place et optimisation de méthodes de contrôle de fiabilité des technologies bipolaire/CMOS/DMOS au niveau des plaquettes en cours de procédé (WLR)

par Xavier Gagnard

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Olivier Bonnaud.

Soutenue en 2001

à Rennes 1 .


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  • Détails : 1 vol. (123 p.)
  • Annexes : Bibliogr., 6 p.

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