Interferometrie de plasmas denses utilisant un laser x-uv. Developpement d'un interferometre de michelson x-uv a 13,9 nm

par SEBASTIEN HUBERT

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de PHILIPPE ZEITOUN.

Soutenue en 2001

à Paris 11 .

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  • Résumé

    Dans le cadre des etudes menees sur la fusion par confinement inertiel par le ceadif, certains mecanismes physiques restent encore partiellement incompris, motivant le developpement de nouveaux appareils de diagnostic des plasmas. Ce travail de these presente les travaux menes principalement sur le developpement d'un interferometre michelson x-uv, utilise conjointement avec un laser x-uv, destine a l'etude de la repartition spatiale de la densite electronique des plasmas. Afin d'identifier les difficultes liees a l'etude de plasmas par laser x-uv, nous avons entrepris une premiere experience avec un interferometre a bi-miroir de fresnel (laboratoire charles fabry de l'institut d'optique d'orsay), couple a un systeme d'imagerie, et un laser x-uv a zinc neonoide a 21,2 nm (lsai). Une caracterisation numerique complete de l'experience d'interferometrie fut menee afin de determiner les parametres relatifs aux plasmas a etudier. Les interferogrammes obtenus, sans plasmas, sur des champs de 600 m 1,5 mm et avec une visibilite de 13%, ont neanmoins permis de valider la technique de l'interferometre imageur. Nous presentons ensuite l'ensemble du travail relatif au michelson x-uv qui debute par le developpement de lames separatrices x-uv double face ( = 13,9 nm, incidence de 45\) et leur metrologie (r = 21%, t = 15%). Ces lames fonctionnant avec le laser x-uv a argent nickelloide a 13,9 nm (lsai), la caracterisation numerique des plasmas fut reconduite. Nous validons ensuite le michelson x-uv avec cette source x-uv et nous presentons les interferogrammes obtenus. Ils couvrent un champ de 5 5 mm 2 (ouverture des lames), compatible avec l'etude des plasmas fci, avec une visibilite maximale de 76%. La premiere application de cet appareil a l'etude de la raie nickelloide a 13,9 nm, a montre une finesse de raie / variant entre 2. 10 5 et 4. 10 5 dans la section du faisceau, ce qui n'avait jamais ete vu auparavant, ni meme predit.


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Informations

  • Détails : 260 p.
  • Annexes : 151 ref.

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  • Bibliothèque : Université Paris-Sud (Orsay, Essonne). Service Commun de la Documentation. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
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