SIGNALER une erreur
EXPORTER les infos

Test intégré des circuits digitaux : analyse et génération de séquences aléatoires adjacentes

par Arnaud Virazel

Thèse de doctorat en Automatique, traitement du signal et génie informatique

Sous la direction de Serge Pravossoudovitch.

Soutenue en 2001

à Montpellier 2 .


  • Pas de résumé disponible.

  • Titre traduit

    Built-in self test of digital circuits : analysis and generation of adjacents random sequences


  • Pas de résumé disponible.

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 159 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 143-153

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Bibliothèque universitaire Sciences et techniques (Montpellier).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 2001.MON-94

Cette version existe également sous forme de microfiche :

  • Bibliothèque : Université Grenoble Alpes (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque et Appui à la Science Ouverte. Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : MF-2001-VIR
  • Bibliothèque : Université Paris-Est Créteil Val de Marne. Service commun de la documentation. Section multidisciplinaire.
  • PEB soumis à condition
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.
ABES
A propos | Assistance | CGU | Données personnelles | Mentions légales | Accessibilité numérique