Test intégré des circuits digitaux : analyse et génération de séquences aléatoires adjacentes

par Arnaud Virazel

Thèse de doctorat en Automatique, traitement du signal et génie informatique

Sous la direction de Serge Pravossoudovitch.

Soutenue en 2001

à Montpellier 2 .

mots clés

• Circuits intégrés à très grande échelle -- Essais

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Titre traduit

Built-in self test of digital circuits : analysis and generation of adjacents random sequences

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