Étude numérique et expérimentale des dommages permanents induits par une particule lourde dans les composants électroniques

par Jean-Gabriel Loquet

Thèse de doctorat en Électronique spatiale

Sous la direction de Jean-Pierre David.


  • Résumé

    Lors des missions spatiales, les composants électroniques embarqués sont soumis à l'influence du rayonnement ionisant présent en environnement spatial. Un des effets de ce rayonnement est de déposer des charges dans la matière avec laquelle il interagit. On s'interesse à un type de dégradation permanente induite par les ions lourds présents dans le rayonnement cosmique. Le mode de défaillance engendrant ce type de dégradation fait intervenir l'apparition d'un courant de fuite élevé dans un des transistors constituant le circuit intégré impacté. Cette étude a montré, par l'expérimentation et la simulation numérique, que cette défaillance peut être induite par l'impact d'un seul ion lourd : il s'agit donc d'un nouveau type d'événement singulier. La section efficace, correspondant à une étroite zone sensible du transistor située dans la région du bec d'oiseau, a pu être déterminée. Le modèle prévoit une augmentation de la sensibilité pour les composants futurs utilisant une technologie LOCOS, et peut être généralisé à d'autres types d'erreurs impliquant le même mode de défaillance car la modélisation est effectuée au niveau du transistor élémentaire.


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Informations

  • Détails : 1 vol. (162 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 156-160

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : ISAE-SUPAERO Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace. Service documentation.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 2001/335 LOQ
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