Etude en champ proche d'effets optiques et magnéto-optiques par microscopie locale à sonde diffusante

par Hervé Wioland

Thèse de doctorat en Nanotechnologie

Sous la direction de Pascal Royer.

Soutenue en 2000

à Troyes .


  • Résumé

    Une configuration originale de microscope optique en champ proche a sonde perturbative en mode transmission a ete developpee. Elle associe un microscope a force atomique commercial travaillant en mode resonant et un microscope optique inverse assurant l'eclairage de l'echantillon et la collection d'une partie du signal diffuse. La pointe afm joue un double role: elle permet non seulement la detection des forces inter-atomiques presentes entre l'extremite de la pointe et la surface mais elle agit comme une particule diffusante de rayleigh pour perturber le champ proche optique present a la surface de l'echantillon. Cette configuration permet l'acquisition simultanee de l'image afm (topographie) et de l'image snom (optique). Les premiers resultats obtenus sur un reseau de plots d'aluminium (pas de 400 nm) depose sur un substrat de verre nous ont amene a nous interroger sur les artefacts que cette architecture engendre dans la formation de l'image optique, en particulier, la presence du levier afm a une faible distance de la surface et les variations de distance sonde-surface induites par les instabilites de l'oscillateur (le levier afm). L'application concerne l'etude d'echantillons magnetiques (grenats substitues) par des effets magneto-optiques en champ proche (faraday et dichroique circulaire magnetique). Les images obtenues montrent d'une part, un decouplage entre l'information topographique et la distribution de l'aimantation a la surface de l'echantillon et d'autre part une distribution de l'aimantation en surface plus complexe que celle de volume.

  • Titre traduit

    Near-field optical and magneto-optical effects study with a perturbative scanning probe microscopy


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Informations

  • Détails : 174 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 161-169

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  • Bibliothèque : Université de Technologie. Service commun de la documentation.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : THE 00 WIO
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