Simulation de fautes et optimisation des tests de production pour les circuits analogiques avec prise en compte des tolerances

par ABDELHAKIM KHOUAS

Thèse de doctorat en Sciences et techniques

Sous la direction de Alain Greiner.

Soutenue en 2000

à Paris 6 .

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  • Résumé

    Face aux progres accomplis dans le domaine de l'integration des circuits integres vlsi, les circuits analogiques deviennent plus complexes et plus difficiles a tester. Cette these presente une nouvelle methodologie pour la simulation de fautes et l'optimisation automatique des tests de production pour les circuits integres analogiques en tenant compte des variations du processus de fabrication des circuits integres. Le simulateur de fautes est un outil indispensable au developpement de toute strategie de test, il permet de valider les techniques de conception en vue du test (dft), et de reduire les couts des tests de production. Les deux caracteristiques importantes d'un simulateur de fautes sont : precision et rapidite. Pour repondre a l'exigence de precision dans le monde analogique ou les valeurs sont imprecises et avec tolerances, nous avons defini une fonction de probabilite de detection de fautes (pdf) qui permet de quantifier le degre de detection possible d'une faute donnee. Pour la rapidite, nous avons propose un nouveau algorithme qui utilise des tests d'arret pour reduire le temps de simulation de fautes. Pour les circuits analogiques, les tests dependent de la nature du circuit a tester. Il est donc impossible de developper un generateur automatique de vecteurs de test pour tous les types de circuits. C'est pourquoi nous avons attaque le probleme de l'optimisation automatique d'ensembles de tests pre-existants. Afin de tenir compte des fluctuations du processus de fabrication, une methode d'optimisation des tests de production basee sur la fonction de probabilite de detection de fautes a ete presentee. Un prototype d'outil de simulation de fautes et d'optimisation automatique des tests de production a ete developpe pour valider notre approche. Ce prototype nous a permis de valider, sur plusieurs circuits, notre methode basee sur les probabilites de detection de fautes, et les resultats de performance obtenus sont tres encourageants.

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Informations

  • Détails : 166 p.
  • Annexes : 104 ref.

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université Pierre et Marie Curie. Bibliothèque Universitaire Pierre et Marie Curie . Section Mathématiques-Informatique Recherche.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : T Paris 6 2000 244
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : PMC RT P6 2000
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