TY  - THES
DP  - 
		http://www.theses.fr/2000MON20055
TI  - Caractérisation et modélisation du bruit en 1/f des transistors à films minces élaborés sur silicium amorphe
AU  - Rhayem, Joseph
A3  - Rigaud, Dominique
PY  - 2000
SP  - vi, 179 p
N1  - Thèse de doctorat Électronique, optronique et systèmes Montpellier 2 2000
N1  - 2000MON20055
ER  -