Contribution a l'elaboration de nouvelles approches pour la fiabilisation de composants electroniques semi-conducteurs

par JEAN-MARC BOSC

Thèse de doctorat en Conception des circuits micrélectroniques et microsystèmes

Sous la direction de Gérard Sarrabayrouse.

Soutenue en 2000

à Toulouse, INSA .

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  • Résumé

    Le but de ce memoire est de montrer l'interet que represente l'ingenierie de fiabilite dans le cadre du developpement de nouveaux produits, notamment, dans le domaine des hautes technologies et, en particulier, dans le cas de l'industrie des semi-conducteurs. Dans une premiere partie, nous nous sommes attache a montrer la necessite de reduire le temps d'acces au marche des nouveaux produits semi-conducteurs et nous avons propose d'inclure l'ingenierie de fiabilite comme un element indispensable du processus de conception. A cet effet, nous avons particulierement insiste sur le besoin de recourir a des structures elementaires de test qui seront utilisees pour effectuer, tres en amont du projet, des tests acceleres de fiabilite mis au point, grace a l'etude des contraintes de l'application que devra subir le produit concerne. Les resultats de tests devront, par la suite, etre utilises pour alimenter des bases de donnees de fiabilite reutilisables dans le cadre de plusieurs projets. Afin de montrer l'interet de notre propos, nous avons presente les resultats obtenus grace a l'utilisation de cette approche dans le cas de deux types de composants tres differents : capteur de gaz micro usine sur silicium, que les tests classiques n'etaient pas en mesure d'evaluer de maniere satisfaisante en fiabilite et les transistors ldmos, constituant les etages de puissance des circuits smart power, lors de leurs fonctionnements dans les systemes electroniques d'assistance au freinage.

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Informations

  • Détails : 135 p.
  • Annexes : 93 ref.

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées. Bibliothèque centrale.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 2000/562/BOS
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