Caractérisation des modes de défaillance des capteurs d'images CMOS à pixels actifs en environnement spatial

par Muriel Cohen

Thèse de doctorat en Microélectronique

Sous la direction de Jean-Pierre David.

Soutenue en 2000

à Toulouse, ENSAE .

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 1 vol. (91 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. [94]-[97]

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : ISAE-SUPAERO Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace. Service documentation.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 2000/310 COH
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.