Simulation expérimentale par impulsions laser ultra-courtes des effets des radiations ionisantes sur les circuits intégrés

par Vincent Pouget

Thèse de doctorat en Sciences physiques et de l'ingenieur. Instrumentation et mesures

Sous la direction de Pascal Fouillat et de Laurent Sarger.

Soutenue en 2000

à Bordeaux 1 .


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  • Résumé

    Ce travail présente l'élaboration d'un banc expérimental de test des circuits intégrés par faisceau laser impulsionnel ayant pour objectif la simulation des effets des radiations ionisantes sur les composants microélectroniques. Le contexte de l'étude est présenté par une revue de la littérature, et l'interaction ion-silicium est analysée. Un modèle rigoureux de l'interaction impulsion laser-silicium est développé. Les possibilités d'équivalence entre les deux interactions sont explorées et les limitations évoquées. Un modèle électrique de la réponse transitoire d'un transistor MOS à une irradiation est proposé. Un système expérimental de test des circuits intégrés par impulsions laser ultra-courtes est conçu, développé et caractérisé. Son automatisation complète est décrite. Le système est validé par différents types de tests effectués sur dès circuits numériques et analogiques. Le potentiel d'un nouveau type de cartographie des circuits intégrés est évalué.

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Informations

  • Détails : 239 p.
  • Notes : Reproduction de la thèse autorisée
  • Annexes : Bibliogr. p. 225-239

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  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : FTA 2250
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