Thèse de doctorat en Physique
Sous la direction de Vincent Comparat.
Soutenue en 1999
à Grenoble 1 , en partenariat avec Laboratoire d'électronique et de technologie de l'information (Grenoble) (laboratoire) .
Le président du jury était Jean-François Le Bas.
Le jury était composé de Vincent Comparat, Alain Chovet, Francis Glasser.
Les rapporteurs étaient Makram Hage-Ali, Robert Triboulet.
Des detecteurs a base de cdte et de cdznte ont ete etudies pour la tomographie x medicale multicoupes. Differentes electrodes (au, pt, in) ont ete deposees sur du cdznte hpbm et sur du cdte:cl thm. Les proprietes d'injection des contacts ont ete etudiees a partir des caracteristiques courant-tension. Sous rayonnement x dans les conditions d'irradiation du scanner, les mesures des courants d'injection renseignent sur les charges d'espace des porteurs pieges. De la meme maniere, les comparaisons des trainees des courants apres la coupure du faisceau x avec differentes possibilites d'injection permettent de suivre les evolutions des charges d'espace. Ainsi, les types de niveaux pieges predominants dans nos conditions ont ete cernes. Cependant, a la fois des pieges a electrons et a trous contribuent a l'effet memoire e. G. La dependance des niveaux de courants avec l'histoire de l'irradiation. Cet effet est entre autre note lorsque les conditions du scanner sont simulees par des variations rapides de flux. Ces limitations sont dues a la presence de nombreux defauts en particulier natifs. Des progres significatifs dans la cristallogenese du cdte ou du cdznte avec une reduction importante (facteur 10) des densites de defauts semblent donc necessaires pour que ces detecteurs puissent etre utilises en tomographie x medicale.
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