Etude des techniques spectrométriques pour l'analyse et l'authentification des rubis : application aux rubis vietnamiens, caractérisation et comparaison avec les rubis d'autres origines

par Laurent Delaigue

Thèse de doctorat en Spectrochimie

Sous la direction de Quy Dao Nguyen.


  • Résumé

    Des gisements de rubis de bonne qualité ont été découverts à la fin des années 1980 au Vietnam. Les caractéristiques gemmologiques et physiques de ces pierres précieuses sont encore mal connues. Une caractérisation de ces rubis est donc nécessaire pour pouvoir les différencier de rubis d'autres provenances, voire de différencier les deux gisements vietnamiens. Plusieurs centaines de rubis vietnamiens et d'autres provenances (Birmanie, Thaïlande, Sri-Lanka,) ont été examinés par différentes techniques. La microscopie et la micro-spectrométrie RAMAN nous ont permis de caractériser leurs inclusions. Ces observations permettent pour une majorité d'échantillons de reconnaitre la provenance vietnamienne ou non, et même de distinguer un rubis de Quy Chau d'un rubis de Luc Yen. L'absorption UV-visible nous a permis de caractériser la couleur de ces rubis. Des dosages des éléments tracés ont été effectuées par différentes méthodes : fluorescence X, PIXE et activation neutronique. Ces mesures ont permis de positionner les rubis vietnamiens par rapport aux autres gisements : ils sont très proches des rubis de Mogok, avec peu de fer et beaucoup de chrome, ce qui leur confère une belle couleur et une fluorescence assez intense. Des techniques statistiques de traitement des données ont été utilisées pour extraire l'information utile des données expérimentales recueillies. Il a ainsi été montré qu'il existe des différences importantes entre les deux gisements vietnamiens. Ces techniques ont également permis d'étudier les corrélations entre variations de couleur et concentrations en éléments tracés : seul le chrome, parmi les éléments de transition, montre une influence réelle. La comparaison des résultats obtenus par PIXE et par fluorescence X a montré que ces dernières étaient entachées d'un bruit provenant des éléments présents dans les inclusions des pierres examinées. Les mesures par PIXE semblent donc plus susceptibles de fournir des informations précises.


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Informations

  • Détails : 1 vol. (III-140 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. 76 réf.

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  • Cote : TH 60118
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