Analyse structurale des matériaux soumis simultanément à haute pression etbasse température : conception et réalisation de l'appareillage de diffraction des rayons X, application au diagramme de phases de deux conducteurs organiques : (TMTSF)2CIO4 et (TSeT)2CLI : par Delphine Le Pevelen

par Delphine Le Pevelen

Thèse de doctorat en Instrumentation et mesures

Sous la direction de Daniel Chasseau.

Soutenue en 1999

à Bordeaux 1 .

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  • Résumé

    Ce travail de these presente la conception et la realisation, pour la premiere fois au plan international, d'un ensemble de diffraction x (diffractometre a incidence normale et chambre weissenberg verticale) permettant le couplage des contraintes pression et temperature, ce qui rend desormais possible l'acces d'un point de vue structural a n'importe quel point d'un diagramme de phases p-t. Ce nouvel equipement a ete utilise avec succes pour etudier le comportement structural de deux conducteurs organiques : (tmtsf) 2clo 4 et (tset) 2cl. Pour chacun d'entre eux, est decrite de maniere detaillee l'evolution des caracteristiques structurales sous contraintes avec en particulier la determination de leur structure cristalline a (5 kbar, 7 k). Ces resultats cristallographiques ont permis de calculer les structures de bandes et surfaces de fermi, d'etablir des correlations avec les proprietes physiques en expliquant notamment les transitions decelees precedemment.


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  • Détails : 280 p

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  • Cote : FTA 2063
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