Une methode de test des circuits integres, basee sur un decoupage structurel peu recouvrant

par OLIVIER FLORENT

Thèse de doctorat en Sciences et techniques

Sous la direction de Alain Greiner.

Soutenue en 1998

à Paris 6 .

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  • Résumé

    Nous nous placons dans le cadre d'un circuit possedant deja des structures de test. Nous avons observe que les circuits integres d'aujourd'hui possedent tous des chemins de scan-path, certains utilisent le test integre ou des macro-cellules, et la plupart ont une architecture boundary-scan. Dans ces circuits, l'utilisation de blocs issus de bibliotheques ou de fabricants differents, ou encore la reutilisation de composants, ne permet pas de maitriser l'implantation des structures de test. Nous proposons d'effectuer un decoupage du circuit autour de ses structures de test en unites testables independantes de complexite raisonnable vis a vis des outils de generation de vecteurs de test. Nous effectuons une identification automatique des points observables et controlables dans la representation structurelle du circuit a l'aide de simulations. Puis nous decoupons le circuit en unites testables. Puisque nous ne maitrisons pas l'emplacement des points observables et controlables du circuit, ces unites testables peuvent etre recouvrantes. Nous essayons de rendre le decoupage le moins recouvrant possible. Nous n'incluons pas dans ces unites testables les portes venant de l'architecture boundary-scan, ni les blocs incluant leur propre mecanisme de test. Les unites testables etant independantes, nous pouvons distribuer la generation sur un reseau de stations de travail. Nous proposons une technique d'assemblage des vecteurs de test et des dictionnaires de fautes issus de la generation, afin d'obtenir une sequence unique et un dictionnaire unique pour l'ensemble du circuit, sans effectuer une simulation de fautes globale. Nous parallelisons les vecteurs issus d'unites testables non-recouvrantes ainsi que ceux issus d'unites testables peu recouvrantes. Nous avons realise un prototype logiciel s'appuyant sur la chaine alliance et sur le generateur de vecteurs de test commercial hitest. Ce prototype nous a permis de confronter notre methode a des circuits reels.


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Informations

  • Détails : 121 p.
  • Annexes : 46 ref.

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  • Bibliothèque : Université Pierre et Marie Curie. Bibliothèque Universitaire Pierre et Marie Curie . Section Mathématiques-Informatique Recherche.
  • Disponible pour le PEB
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : PMC RT P6 1998
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