Analyse de circuits optiques passifs et actifs en microscopie a sonde locale

par STEPHANIE EMONIN

Thèse de doctorat en Sciences appliquées

Sous la direction de Jean-Pierre Goudonnet et de Eric Bourillot.

Soutenue en 1998

à Dijon .

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  • Résumé

    Le principal objectif de cette etude est de montrer que les microscopes a sonde locale sont tout-a-fait adaptes a la caracterisation de circuits optiques passifs et actifs de l'optique integree, que ce soit par une utilisation individuelle des microscopes afm (atomic force microscope) et pstm (photon scanning tunneling microscope) ou par le couplage de deux techniques afm/lfm (lateral force microscope) et afm/pstm. Dans un premier chapitre, nous determinons les longueurs d'onde de coupure de guides d'ondes planaires a gradient d'indice grace a un pstm. A l'aide d'une methode numerique adaptee, on parvient a remonter aux caracteristiques opto-geometriques du guide et a comparer nos resultats avec ceux generalement obtenus par des methodes plus classiques. Dans un deuxieme chapitre, nous proposons quatre techniques utilisant des microscopes a sonde locale afin de pouvoir localiser les dopants de fibres optiques dopees erbium clivees. Des mesures de friction, de detection de phase, d'analyse modale et de fluorescence sont realisees et montrent l'influence de la sonde locale utilisee (leviers afm, fibre courbee, importance de la metallisation). Dans un troisieme chapitre, nous etudions deux types de diodes laser a semi-conducteurs emettant dans le proche infra-rouge. Une etude comparative est realisee avec les dispositifs afm/lfm et afm/pstm qui permettent tous deux de detecter les modes transverses des diodes. Dans le cas de l'afm/lfm, seuls les effets thermiques qui entrent en jeu fournissent une explication des images topographiques et de friction obtenues et mettent ainsi en evidence la sensibilite a la temperature d'un levier afm classique.

  • Titre traduit

    Analysis of passive and active optical devicfs in near-field microscopy


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Informations

  • Détails : 167 P.
  • Annexes : 97 REF.

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