Microscopie à force électrostatique : étude fondamentale et simulation numérique

par Sophie Belaidi

Thèse de doctorat en Milieux denses et matériaux

Sous la direction de PAUL GIRARD.

Soutenue en 1997

à Montpellier 2 .


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  • Résumé

    Cette these presente, tout d'abord, les resultats issus d'un modele numerique : le modele des charges equivalentes pour calculer la force electrostatique s'appliquant sur une pointe de microscope a force atomique. Ce modele nous permet de determiner les limites des approximations habituellement utilisees pour le cas d'une pointe conductrice en face d'un plan conducteur. Puis, nous determinons l'importance des differents composants du capteur en mode resonant et statique. Plus particulierement, nous montrons, en accord avec l'experience, l'effet predominant du levier pour de grandes distances pointe - echantillon et determinons les moyens de corriger ce phenomene. Enfin, au moyen de la methode des charges equivalentes et de celle des elements finis, nous simulons le balayage au-dessus de surfaces comportant diverses heterogeneites electriques et topographiques. Ces simulations nous permettent d'etablir des relations existant entre la resolution spatiale, les caracteristiques geometriques de la pointe et la distance pointe - echantillon en microscopie a force electrostatique.

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Informations

  • Détails : [4], 186 p
  • Annexes : Bibliogr.: p. 183-186

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  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
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  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 97.MON-222
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