Approche multi-stratégique pour la génération déterministe de vecteurs de test de circuits séquentiels synchrones

Multi-strategy approach for deterministic test vector generation of synchronous sequential circuits

• Auteur / Autrice : Alain Dargelas
• Direction : Yves Bertrand
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique, optronique et systèmes
• Date : Soutenance en 1997
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Analyse vectorielle

Tests

Informatique

Essais

Circuits intégrés

Résumé

Cette these propose une etude bibliographique exhaustive des techniques deterministes de generation de vecteurs de test pour circuits combinatoires et sequentiels synchrones. Une description exhaustive des difficultes specifique du test des circuits combinatoires et sequentiels est faite. Une approche pragmatique est menee pour repondre aux exigences industrielles de la generation de vecteurs de test pour les circuits combinatoires et sequentiels. Des methodes originales, visant les couches algorithmiques de haut niveau, telles que les strategies multiples de recherche structurelle ou les strategies multiples de recherche temporelle sont introduites. D'autres mecanismes de bas niveau tels que les mecanismes de remise en cause ou d'ordonnancement de decisions sont discutes. Une demonstration de l'efficacite des methodes proposees est faite par comparaison avec les meilleurs outils industriels. Cette efficacite se mesure par rapport au taux de couverture de fautes atteint, a la reduction du temps de generation et a la reduction des longueurs de sequences de test. Finalement, une ouverture des techniques utilisees par les generateurs de vecteurs de test vers d'autres disciplines de la microelectronique est exposee