TY  - THES
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		http://www.theses.fr/1997ISAL0093
TI  - Application de la technique de photo réflectivité à la caractérisation de microcavités semi-conductrices
AU  - Berger, Pierre-Damien
A3  - Bru-Chevallier, Catherine
PY  - 1997
SP  - 1 vol. (155 p.)
N1  - Thèse de doctorat Génie électrique Lyon, INSA 1997
N1  - 1997ISAL0093
ER  -