Contribution a l'etude de l'influence d'additifs sur l'electrodeposition du nickel. Caracterisation de la rugosite par microscopie a sonde locale et reflectrometrie

par VINCENT DARRORT

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Michel Troyon.

Soutenue en 1996

à Reims .

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  • Résumé

    L'elaboration de depots par voie electrolytique permet de recouvrir un materiau de base d'une couche metallique ayant des proprietes physiques superieures. Les additifs que l'on ajoute au bain ameliorent certaines proprietes du depot. Nous avons utilise une solution de watts car elle est tres utilisee par les industriels, elle constitue en effet, une tres bonne base pour l'addition ulterieure d'additifs. La premiere partie du travail a concerne l'action de la saccharine, du butyne 2 diol 1-4, ainsi que leur melange sur la rugosite des depots de nickel. Ceux-ci sont effectues sur du cuivre polycristallin poli mecaniquement et electrolytiquement. Grace a son excellente resolution, le microscope a force atomique nous a permis de quantifier et de comparer l'effet de ces brillanteurs pour une epaisseur deposee de 15 microns. Lors de la deuxieme partie nous avons montre que l'on pouvait correler des valeurs de rugosite mesurees a l'aide d'un microscope a force atomique et les coefficients de reflexion speculaire des echantillons etudies a l'aide de la loi de bennett et de porteus, a condition que l'aire analysee optiquement et par microscope a force atomique soient proches et que les valeurs de rugosite soient tres inferieures a la longueur d'onde du faisceau optique. Enfin dans la derniere partie nous avons etudie l'influence des brillanteurs precedemment utilises, sur des couches ultra-minces deposees sur du carbone amorphe. Notre etude nous a permis d'emettre une hypothese sur les modes de croissance differents en presence de saccharine ou de butyne 2 diol 1-4

  • Titre traduit

    Contribution to the study of the brightener influence on electrodeposited nickel. Characterization of roughness by scanning probe microscopy and reflectrometry


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  • Détails : 130 P.
  • Annexes : 117 REF.

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