Contribution à la simulation en conception des effets des porteurs chauds sur la fiabilité des circuits analogiques CMOS

par Bernard Bordonado

Thèse de doctorat en Conception de circuits microélectroniques et microsystèmes

Sous la direction de J.-L. NOULLET.

Soutenue en 1996

à Toulouse, INSA .


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  • Résumé

    Cette etude est consacree au developpement d'un nouveau flux de simulation pour ameliorer des la phase de conception la fiabilite aux effets des porteurs chauds des circuits analogiques cmos, et ce independamment des specificites de la technologie utilisee. La methode proposee d'amelioration qualitative avant fonderie de la fiabilite aux porteurs chauds repose sur la possibilite de simuler la duree de vie d'un circuit fonctionnel complexe a partir de donnees de vieillissement extraites sur des structures de test fondamentales. Cette nouvelle methodologie englobe et etend les connaissances deja acquises sur le sujet dans le domaine des circuits numeriques. Une etude theorique et experimentale approfondie a ete menee sur des oscillateurs en anneaux et des amplificateurs operationnels, circuits elementaires de l'electronique analogique. Plusieurs prototypes de complexites et de fonctionnalites diverses ont ete concus, realises, testes, vieillis electriquement et simules pour le developpement et la validation de ce flux

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Informations

  • Détails : 131-58 f

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  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées. Bibliothèque centrale.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 1996/408/BOR
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