Contribution au test des circuits mixtes : modélisation et simulation de fautes

par Pascal Caunègre

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Francis Chauvet.

Soutenue en 1996

à Toulouse, INSA .


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  • Résumé

    Les recherches presentes dans cette these contribuent au test des circuits analogiques ou mixtes par l'etude des modeles de fautes et par la realisation d'outils de simulation de fautes. Les defauts physiques survenant lors de la fabrication des circuits sont inventories. Differents modeles et techniques d'injection de fautes permettant de simuler ces defauts dans les circuits analogiques sont envisages et evalues a l'aide de circuits a base de transistors mos ou bipolaires. L'effet ces defauts sur une cellule logique est analyse et l'adequation de modeles de fautes logiques existants est etudiee. De nouveaux modeles sont introduits et la construction d'un catalogue de modeles de fautes est proposee. Les court-circuits intervenant entre les signaux issus de deux cellules logiques sont traites par une methode faisant intervenir un simulateur mixte et des modeles comportementaux de cellule logiques. Cette etude est egalement etendue aux court-circuits dans les circuits mixtes. Des modeles comportementaux de systemes de test analogique sont realises et permettent de concevoir un banc de test virtuel aidant a l'ecriture des vecteurs de test. Des outils de simulation de fautes pour circuits analogiques ou mixtes sont developpes permettant de mesurer le taux de couverture de fautes du test et de selectionner les vecteurs de test. L'analyse de la sensibilite des mesures aux parametres du circuit est aussi mise a profit pour calculer le taux de couverture des fautes parametriques pour des circuits lineaires

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  • Détails : 125 f

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  • Bibliothèque : Moyens Informatiques et Multimédia. Information.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : B-CAU
  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées. Bibliothèque centrale.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 1996/385/CAU
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