Contribution à l'étude des problèmes de compatibilité électromagnétique dans les systèmes micro-électroniques submicroniques

par Jean-Yves Fourniols

Thèse de doctorat en Conception des circuits micrélectroniques et microsystèmes

Sous la direction de Étienne Sicard.

Soutenue en 1996

à Toulouse, INSA .


  • Résumé

    Les progres en integration micro-electronique permettent la realisation sur une meme puce de systemes complets, alliant les circuits digitaux de tres grande vitesse tels que les microprocesseurs, et les circuits analogiques hautes performances. Ces nouveaux systemes integres en technologies submicroniques ont vu l'apparition de phenomenes parasites. Ce travail de these, se situe en relation avec la nouvelle norme cee du 1#e#r janvier 1996, concernant la prise en compte de la compatibilite electromagnetique des systemes electroniques. L'approche theorique concerne la modelisation des interconnexions et du phenomene de diaphonie, pour les elements constituant le systeme, circuit integre, boitier d'encapsulation et substrat multi-chip module. Une resolution numerique de l'equation de laplace par la methode des elements finis permet l'extraction, depuis une geometrie de conducteurs donnee, des elements capacitifs et inductifs des conducteurs. L'implantation de ces algorithmes a permis la realisation d'un logiciel, baptise capitool, qui est utilise dans le milieu industriel par certains fondeurs. La resolution analytique dans le domaine temporel, du bruit electromagnetique induit en mode conduit, a ete integree dans un environnement cao, qui permet la prediction des zones couplees sur un dessin de circuit integre. A partir du developpement de notre atelier logiciel, un ensemble de simulations permettent de classifier la susceptibilite des interconnexions, afin d'editer pour les concepteurs, des regles de dessin. L'approche experimentale vient ensuite valider, par une methodologie specifique de test, les modeles proposes. Un nouveau capteur implante sur silicium est presente, avec une evolution vers la mesure de bruit externe. Ce systeme est aujourd'hui utilise dans le milieu industriel, pour caracteriser les nouvelles technologies

  • Titre traduit

    On the study of electromagnetic compatibility problemes inside micro-electronic systems in advanced technologies


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  • Détails : 217 f

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  • PEB soumis à condition
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