Caractérisation et modélisation micro-onde de films minces métalliques de structure fractale

par Stéphanie Mengué

Thèse de doctorat en Électronique. Micro-ondes

Sous la direction de Guy Ablart.

Soutenue en 1995

à Toulouse 3 .


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  • Résumé

    Dans une premiere partie, une technique d'elaboration de films minces metalliques de structure fractale est presentee. Cet echantillon est obtenu par electrodeposition. La morphologie de ce materiau est etudiee et sa dimension fractale d determinee (d = 1. 67). Des mesures de resistances et d'impedances sur ces echantillons mettent en evidence l'influence de leur caractere fractal. Dans une seconde partie, trois methodes de caracterisation micro-onde de differents films minces conducteurs de structure fractale sont exposees. Les deux premieres sont basees sur l'utilisation de resonateurs dielectrique et microruban et la troisieme emploie un banc en espace libre. Ces methodes permettent de mesurer l'impedance de surface du materiau. Les resultats montrent que celle-ci suit une evolution frequentielle differente de celle de materiaux cristallins. Une modelisation des proprietes electromagnetiques des films metalliques de structure fractale est proposee. Elle est basee sur une modification des equations de maxwell, faisant intervenir des derivations fractionnaires. Une correlation entre la variation frequentielle de l'impedance de surface et la dimension fractale des echantillons est presentee

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Informations

  • Détails : 190 p

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université Paul Sabatier. Bibliothèque universitaire de sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 1995TOU30187
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