TY  - THES
DP  - http://www.theses.fr/1995MON20045
TI  - Microscopie à saut de phase : défauts dans les emiconducteurs et les couches transparentes
AU  - Benhaddou, Driss
A3  - Fillard, Jean-Pierre
PY  - 1995
SP  - 155 p
N1  - Thèse de doctorat Électronique, optronique et systèmes Montpellier 2 1995
N1  - 1995MON20045
ER  -