TY  - THES
DP  - 
		http://www.theses.fr/1995LYO10268
TI  - Caractérisation par microscopie électronique en transmission de la croissance et de la relaxation des structures épitaxiales contraintes en compression dans le système InGaAs-InP
AU  - Miossi, Christophe
A3  - Pitaval, Michel
PY  - 1995
SP  - 1 vol. (164 p.)
N1  - Thèse de doctorat Sciences. Sciences des matériaux Lyon 1 1995
N1  - 1995LYO10268
ER  -