Algorithmes de testabilite bases sur la description a deux-niveaux groupe-e-concurrente des fonctions logiques

par MOKHTAR BOUDJIT

Thèse de doctorat en Sciences appliquées

Sous la direction de M. NICOLAIDIS.

Soutenue en 1995

à l'INP GRENOBLE .

    mots clés mots clés


  • Résumé

    Cette these presente un ensemble de methodes et d'algorithmes pour le test de circuits integres logiques. Les algorithmes developpes sont bases sur une nouvelle description des circuits. Cette description, nommee groupe-e-concurrente, est extraite de la description standard a deux-niveaux et presente plusieurs avantages par rapport a cette derniere et par rapport a la description a deux-niveaux non concurrente. La premiere partie concerne le test en-ligne. On presente un outil de generation de plas auto-controlables utilisant un codage en parite. On propose egalement de nouvelles architectures basees sur le code de berger. Les resultats experimentaux montrent une reduction significative de la surface additionnelle requise. D'autre part, un outil de calcul du code de sortie des blocs enterres dans des systemes complexes est egalement presente. La description groupe-e-concurrente s'adapte parfaitement a un tel calcul et evite le recours a la simulation exhaustive souvent impraticable pour les circuits ayant un nombre eleve d'entrees. D'autres outils permettant la verification des proprietes d'auto-controlabilite des blocs enterres sont egalement developpes et experimentes. La deuxieme partie traite de la generation hierarchisees de vecteurs de test et presente l'outil atpg au niveau systeme qu'on a developpe. L'approche proposee se base sur la description groupe-e-concurrente. Le systeme est decrit en terme de blocs fonctionnels interconnectes. Un atpg local est utilise pour generer les vecteurs de test locaux pour chacun des blocs et des algorithmes de propagation avant et arriere sont utilises pour propager ces vecteurs aux entrees/sorties du systeme. Les resultats fournis par notre outil revelent les avantages dus a l'utilisation de la description groupe-e-concurrente des circuits. Le recours a cette description reduit considerablement le nombre de propagations, des echecs et par suite le nombre de retours arrieres necessaires. Ce qui a pour effet de diminuer le temps necessaire a la generation de test


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Informations

  • Détails : 170 P.
  • Annexes : 101 REF.

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