Contribution à la caractérisation et à la modélisation des technologies CMOS : étude et conception de microstructures de tests intégrables sur ASIC's

par Olivier Rinaudo

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Jean-Paul Dom.

Soutenue en 1993

à Bordeaux 1 .

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  • Résumé

    Cette etude propose un outil global pour la caracterisation des technologies cmos a travers les parametres spice extraits de microstructures de test adaptees. Le developpement des conditions de test et une strategie originale d'optimisation des parametres sont presentes. De plus, une amelioration du modele spice ainsi qu'une nouvelle methode d'extraction des resistances d'acces parasites sont exposees. Enfin, la mesure des parametres s de transistors a permis de caracteriser les performances dynamiques du modele spice ainsi que les proprietes de l'interface (si/sio#2)

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  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
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  • Cote : FT 93.B-933
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