Fiabilité analytique des circuits intégrés sur arséniure de gallium

par Patrick Crudo

Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes

Sous la direction de FILLARD.

Soutenue en 1992

à Montpellier 2 .


  • Pas de résumé disponible.


  • Résumé

    L'etude de fiabilite porte sur l'analyse des modes de defaillance des technologies de circuits integres hyperfrequences et logiques rapides sur arseniure de gallium. Sont abordes dans ce travail: d'une part les aspects de methodologie d'evaluation de la fiabilite et les moyens de traitements statistiques des donnees, d'autre part, le suivi en fiabilite des parametres electriques et technologiques des composants. La partie experimentale concerne plus particulierement les problemes de metallurgie sur l'arseniure de gallium. Dans chacun de ces traites une evaluation des donnees de fiabilite (mtf, energie d'activation, dispersion) a ete etablie et des analyses physiques ont permis d'interpreter l'evolution des degradations dans les composantes, et d'apporter des corrections technologiques afin d'en ameliorer la fiabilite

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 153 p
  • Annexes : Bibliogr.: p. 118-126

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Accessible pour le PEB
  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 92.MON-3
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.