Détection et reconnaissance de défauts sur matériaux monochromes défilant
Auteur / Autrice : | Eric Mathurin |
Direction : | Jacques Sau |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Sciences |
Date : | Soutenance en 1992 |
Etablissement(s) : | Lyon 1 |
Jury : | Examinateurs / Examinatrices : Jacques Sau |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
L'automatisation de la detection et de la reconnaissance de defauts sur des materiaux monochromes defilant, est effectuee par la mise en uvre de cartes electroniques dediees au format vme qui permettent au travers d'un bus externe la numerisation d'inforamtions acquises lors d'un defilament du materiau et, provenant d'une camera lineaire de type ccd. Ces informations sont traitees ligne a ligne et chaque defaut detecte est stocke en memoire. Differentes techniques numeriques sont implementees: morphologie quantitative, traitement de la matrice d'inertie et, utilisation de l'invariance des polynomes d'hermitte en transformee de fourier, calcul de correlations spatiales. Cette derniere methode s'avere la plus rapide pour la determination grossiere de la structure des defauts