Détection et reconnaissance de défauts sur matériaux monochromes défilant

par Eric Mathurin

Thèse de doctorat en Sciences

Sous la direction de Jacques Sau.

Soutenue en 1992

à Lyon 1 .

Le jury était composé de Jacques Sau.


  • Résumé

    L'automatisation de la detection et de la reconnaissance de defauts sur des materiaux monochromes defilant, est effectuee par la mise en uvre de cartes electroniques dediees au format vme qui permettent au travers d'un bus externe la numerisation d'inforamtions acquises lors d'un defilament du materiau et, provenant d'une camera lineaire de type ccd. Ces informations sont traitees ligne a ligne et chaque defaut detecte est stocke en memoire. Differentes techniques numeriques sont implementees: morphologie quantitative, traitement de la matrice d'inertie et, utilisation de l'invariance des polynomes d'hermitte en transformee de fourier, calcul de correlations spatiales. Cette derniere methode s'avere la plus rapide pour la determination grossiere de la structure des defauts


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Informations

  • Détails : 1 vol. (pagination multiple [circa 120] f.)
  • Annexes : Bibliogr. pagination mutliple [2] f.

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université Claude Bernard (Villeurbanne, Rhône). Service commun de la documentation. BU Sciences.
  • Disponible pour le PEB
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