Thèse soutenue

Détection et reconnaissance de défauts sur matériaux monochromes défilant

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Eric Mathurin
Direction : Jacques Sau
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Sciences
Date : Soutenance en 1992
Etablissement(s) : Lyon 1
Jury : Examinateurs / Examinatrices : Jacques Sau

Mots clés

FR

Mots clés contrôlés

Résumé

FR

L'automatisation de la detection et de la reconnaissance de defauts sur des materiaux monochromes defilant, est effectuee par la mise en uvre de cartes electroniques dediees au format vme qui permettent au travers d'un bus externe la numerisation d'inforamtions acquises lors d'un defilament du materiau et, provenant d'une camera lineaire de type ccd. Ces informations sont traitees ligne a ligne et chaque defaut detecte est stocke en memoire. Differentes techniques numeriques sont implementees: morphologie quantitative, traitement de la matrice d'inertie et, utilisation de l'invariance des polynomes d'hermitte en transformee de fourier, calcul de correlations spatiales. Cette derniere methode s'avere la plus rapide pour la determination grossiere de la structure des defauts