Test aléatoire : évaluation de la testabilité des circuits combinatoires

par Emmanuel Simeu

Thèse de doctorat en Automatique, productique

Sous la direction de René David.

Soutenue en 1992

à Grenoble INPG .

    mots clés mots clés


  • Résumé

    Une implementation optimale du test pseudo-aleatoire sur un circuit donne suppose la determination du nombre de vecteurs (longueur de test) necessaires pour garantir un niveau de couverture de faute (qualite de test) souhaite. Cette longueur est fonction non seulement de la qualite de test desiree, mais aussi du profil de detection du circuit sous test (testabilite: mesure de la facilite de tester). Ce travail propose une approche originale du calcul de la probabilite de detection de la faute-la-plus-difficile-a-detecter. Le niveau de description utilise est le niveau boite noire. Chaque faute interne a une boite noire est modelisee par un ensemble caracteristique de configurations d'entrees de cette boite noire. Comme moyen de mise en uvre de ce modele qui reste tres general, deux outils de calcul ont ete developpes: un algorithme numerique de calcul exact permet non seulement le calcul de la probabilite de detection de fautes internes a une boite noire quelconque du circuit, mais aussi la mesure d'une borne inferieure de la testabilite du circuit. Le second outil utilise la simulation et la preuve formelle pour evaluer une estimation statistique de la probabilite de detection de la faute la-plus-difficile-a-detecter. Les resultats obtenus sur les dix circuits combinatoires iscas de benchmark sont presentes. Chacun de ces deux outils fournit un ensemble d'informations suffisamment riches pour permettre une modification des circuits les moins testables afin d'ameliorer leur testabilite

  • Titre traduit

    Random testing: testability estimation for combinational circuits


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  • Détails : 1 vol. (151 p.)

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  • Bibliothèque : Service interétablissements de Documentation (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
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  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 92/INPG/0077

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  • Cote : IMAG-1992-SIM
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