Etude des proprietes electrooptiques de couches minces organiques par la methode de la reflexion totale attenuee

Study of organic thin film electrooptic properties by the attenuated total reflection method

• Auteur / Autrice : DOMINIQUE MORICHERE
• Direction : YVES LEVY
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1991
• Etablissement(s) : Paris 11

Résumé

En vue de realiser des modulateurs electrooptiques a faible tension de commande, a grande bande passante et faible cout, nous avons caracterise differents materiaux organiques deposes en couche mince. La methode de la reflexion totale attenuee (art) est particulierement adaptee pour la determination des constantes optiques (indices, epaisseur) et des coefficients electrooptiques lineaires (effet pockels) et quadratiques (effet kerr). Elle permet, par excitation des modes guidees, de sonder l'echantillon dans son volume. Les valeurs des indices et de l'epaisseur du polymere sont determinees a partir de l'enregistrement de la reflectivite en fonction de l'angle d'incidence du faisceau incident excitant les modes guides. La variation de la reflectivite, sous l'effet d'un champ electrique permet de mesurer les variations induites d'indices et d'epaisseur. Il est alors possible de separer l'effet electrooptique direct de l'effet electromecanique (piezoelectricite, electrostriction). Nous avons caracterise tout d'abord un materiau isotrope centrosymetrique, le poly(phenylmethyl) silane, puis un polymere ferroelectrique, le p(vdcn-vac), deux copolymere et enfin un colorant azoique disperse red 1 (dr1) dopant une matrice de polymethylmethacrylate. L'etude de la molecule de dr1 a montre que l'atr n'est pas seulement un outil de mesure des coefficients electrooptiques mais aussi, un moyen d'analyse des effets produits par l'interaction molecule-lumiere (changement de la configuration cis-trans)