Contribution à la caractérisation des matériaux : étude des couches minces, multicouches et superréseaux III-V et II-VI par double diffraction des rayons X (composition, qualité, contraintes) : étude structurale par absorption X au seuil K d'une série de complexes du cobalt et du fer, XANES et EXAFS de laboratoire

par Danielle Barbusse

Thèse de doctorat en Chimie organique, minérale, analytique, industrielle. Matériaux pour la microélectronique et la microionique

Sous la direction de Robert Fourcade.

Soutenue en 1991

à Montpellier 2 .


  • Pas de résumé disponible.


  • Résumé

    Un dispositif experimental de double diffraction des rayons x a ete concu et realise au laboratoire. Des mesures de desaccords de maille inferieurs a 5. 10##3 sont accessibles. Dans la premiere partie, des etudes qualitatives (qualite cristalline) et quantitatives (composition, contraintes) ont ete effectuees sur des couches minces multicouches et superreseaux de semiconducteurs. La deuxieme partie montre la faisabilite d'une mesure d'absorption x au laboratoire. La fiabilite des resultats obtenus est demontree a partir de l'etude xanes et exafs au seuil k du fer et du cobalt dans quelques complexes

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : [7], 210 p.
  • Annexes : 83 REF

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 91.MON-189
  • Bibliothèque : Bibliothèque interuniversitaire. Section Sciences.
  • Accessible pour le PEB
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.