Test intégré de PLAS CMOS dynamiques implantant des machines d'états finis

par Stéphane Rayon

Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes

Sous la direction de Gaston Cambon.

Soutenue en 1991

à Montpellier 2 .


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  • Résumé

    Cette these a pour objet la conception en vue du test et le test integre de machines d'etats finis (mef) implantees sous forme de plas cmos dynamiques avec registres d'etats. L'etude est menee jusqu'a la definition d'un outil de cao pour la generation atomatique des mef self-testables. A partir du graphe de la machine a realiser, l'outil genere les masques de l'implantation physique dans la technologie choisie. Apres une presentation detaillee des differentes methodes de test des plas, une etude particuliere concernant la conception en vue du test des plas cmos dynamiques est proposee. Des modeles de fautes specifiques sont definis permettant ensuite une formalisation precise des vecteurs de test. Des modules de generation de cette sequence et d'analyse des reponses sont elabores comme partie integrante de la machine. Enfin, un outil de generation automatique est valide par differents exemples d'application

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